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霍爾效應測量系統 HEMS
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霍爾效應測量系統 HEMS

HEMS 霍爾效應測量系統
上海幸运飞艇网站英国 NanoMagnetics 仪器 HEMS 霍爾效應測量系統, 多样品实验, 非常适合材料研究等应用.

HEMS 霍爾效應測量系統特點
多样品实验, van der Pauw 4接触点 ; Hall Bar 6接触点
广泛的材料: GaAs, lnP, lnAs, Si, Ge, SiGe, HgCdTe, GaN, SiC, AIN, 金属氧化物和有机导体
非常适合于材料研究, 产品开发和质量控制
样品电阻率, 电阻率, 霍尔系数, 霍尔迁移率, 载流子浓度或电流电压特性
Windows 操作系统用于系统操作, 数据采集和分析

HEMS  霍爾效應測量系統可以測量
移動測量
載流子測量
電阻率測量
Van der Pauw 测量
Hall Bar 测量

HEMS  霍爾效應測量系統極帽
可调極帽
25mm 面钻
连续可调 0-1, 30mm 的极隙
可选 50mm, 75mm 更大的钻心

電磁鐵:
±2.ST@ I 0mm 间隙与 25mm 杆面
±35V, ±70A 线圈
磁场 > ±IT @ 25mm 极隙
磁场强度高, 磁极间距大
串联线圈电阻: 0.5 0 ( 20℃ )
水冷

HEMS  霍爾效應測量系統樣品台:
彈簧加載設計選項
Van der Pauw 设计测量
四、六、八觸點廳杆測量設計
容易安裝樣品與彈簧銷
多個樣品安裝

 

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