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Pfeiffer 殘氣質譜儀 RGA 应用于角分辨光电子能谱仪 XPS
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Pfeiffer 殘氣質譜儀 RGA 应用于角分辨光电子能谱仪 XPS

上海幸运飞艇网站德国 Pfeiffer 殘氣質譜儀 RGA 应用于角分辨光电子能谱仪 XPS
光电子能谱仪(photoelectron spectrograph)利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系,由此来判断样品表面各种元素含量,并可分析固、液、气样品中除氢以外的一切元素。
角分辨 XPS 应用于各种固体材料表面(界面)的元素及化学态的定性、半定量、结构分析及化学

鍵研究。
使用上海伯東德國Pfeiffer殘氣分析質譜 QMG,對XPS系統的分析室殘余氣體進行定性和半定量分析,並針對殘余氣體進行除氣措施,從而達到清潔樣品表面,減少空氣分子與標的電子的碰撞,最終得到金屬材料表面的元素及結構分析信息。
上海伯東客戶案例:上海某大學
角分辨光電子能譜儀+Pfeiffer殘余氣體分析質譜應用試驗條件:
金屬樣品厚度:2nm
主真空室:1×10-10 Torr
分辨率:0.8cV
電子槍束斑:75nm
靈敏度:80KCPS
信噪比:大于70:1
角分辨:5°~90°
灵敏度:255 KCPS A1/Mg双阳极靶
能量分辨率:0.3% 位置灵敏检测器(PSD)  
角分辨光电子能谱仪配套上海幸运飞艇网站德国 Pfeiffer QMG 質譜分析儀配置:
1.測量範圍:1-300amu
2.檢測方式:Faraday/C-SEM
3.加熱溫度:1-200℃
4.離子源:開放式離子源
Pfeiffer 質譜分析儀
Pfeiffer 残余气体質譜分析儀與友廠同級別質譜分析儀相比,更適用于移動應用,並且提供高解析度和靈敏度,可對氣體進行定性和定量分析,應用範圍廣泛,從大氣壓力到高真空均可使用。
Pfeiffer 質譜分析儀

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